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熱電堆溫度信號測量電路
來源:薄膜壓力傳感器壓力分布 | 發(fā)布時間:2021/7/27 8:37:26 | 瀏覽次數(shù):

電路示例

本章旨在舉例說明熱電堆溫度信號測量電路。示例與所用熱敏電阻(NTC或鎳)分開。

熱電堆輸出信號處理

運算放大器用作具有移位虛擬地(“偏移電壓”)的非反相放大器。即使傳感器輸出電壓為負,也需要此附加電壓來保持輸出電壓為正。由于熱電堆的輸出電壓非常低(μV至mV),應(yīng)根據(jù)以下參數(shù)仔細選擇運算放大器:

 低失調(diào)電壓,低失調(diào)電壓漂移

 低泄漏電流,低泄漏電流漂移

 低噪音

注:

此圖僅顯示基本功能。

這不是一個現(xiàn)成的電路圖!

圖5:TP放大電路的基本功能

熱敏電阻

一個簡單的分壓器用于測量傳感器的溫度。由于NTC上的高電阻(100kΩ),測量電流引起的自熱對測量精度沒有合理的影響。

圖6:NTC電路的基本功能

鎳電阻式溫度檢測器(Ni1000)

附加運算放大器用作差分放大器,以實現(xiàn)熱敏電阻輸出信號的高動態(tài)范圍。電阻器的選擇取決于發(fā)生的環(huán)境溫度和預(yù)期的輸出電壓范圍。

圖7:Ni RTD電路的基本功能

熱電堆傳感器

申請說明

TE CONNECTIVITY SENSORS///熱電堆傳感器10/2018第7頁

基準傳感器校準

必須校準參考傳感器,以達到足夠的整體測量精度。無論參考傳感器的選擇如何,校準過程都以相同的方式進行。

根據(jù)所需的性能和參考傳感器的公差,需要在一個、兩個或三個環(huán)境溫度下進行校準。這可以在浴缸中進行。

校準前參考傳感器測量

在固定校準溫度(即25°C)下測量NTC電阻(或其電阻上的電壓降)。校準參數(shù)根據(jù)其參考曲線確定。𝑅𝑇𝑥=𝑅25⋅𝑒𝛽⋅(1.𝑇𝑥−1.𝑇25)

圖8:校準前的NTC曲線

圖9:校準后的NTC曲線

熱電堆測量溫度的標定

熱電堆輸出信號的校準可在以下過程步驟中進行:

 在高溫設(shè)定點測量熱電堆電壓,以確定熱電堆靈敏度。

 在低溫設(shè)定點測量熱電堆電壓,以確定由電子和信號處理鏈引起的偏移電壓。根據(jù)精度要求,可以跳過此步驟。

 熱電堆電壓超溫參考曲線必須與測量值相匹配。

測量溫度的計算

本章簡要介紹了利用熱電堆計算物體(測量)溫度的算法。

重點是描述

 與環(huán)境溫度變化有關(guān)的熱電堆特性的基本事實

 創(chuàng)建“校準和溫度補償傳感器”的必要步驟,包括校準本身和可在微控制器中實現(xiàn)的對象溫度計算算法

𝑉𝑇𝑃=𝑠⋅𝜀𝑜𝑏𝑗⋅ 𝑇𝑜𝑏𝑗4.−𝛿−𝑇𝑠𝑒𝑛4.−𝛿

熱電堆傳感器

申請說明

TE CONNECTIVITY SENSORS///熱電堆傳感器10/2018第8頁

命名法

 總磷

熱電堆

 托比

物體溫度

 曾

傳感器溫度

 TSEN,參考

校準時參考傳感器溫度

 三角洲T

δT=TSEN-TSEN,參考

 VTP公司

熱電堆電壓

 特森

熱電堆靈敏度溫度系數(shù)

 斯孔夫

靈敏度換算系數(shù)

 VTP,校正

用SCONV校正熱電堆電壓

 沃夫

偏移量,即參考曲線(存儲在LUT中)和實際VTP(TSEN)之間的電壓距離

 VOFFS,TC公司

TCF校正的VOFFS(偏移量)

 TCF公司

TC系數(shù),即TCF=1+δT×TCSENS

 VTP,參考

TSEN處的計算熱電堆電壓,參考

 VTP,參考,TC

經(jīng)TCF校正的VTP、REF

 邏輯單元

查表

表4:術(shù)語

熱電堆特性

右圖顯示了典型的熱電堆輸出電壓(在本例中為5μm截止濾波器)與物體和環(huán)境溫度的關(guān)系。

在環(huán)境溫度變化的情況下,有兩個重要的影響需要注意:

熱電堆探測紅外線輻射。這種輻射是傳入(來自物體)和傳出(來自傳感器本身)輻射之間的差別。因此,熱電堆的輸出電壓是

A.如果物體溫度>傳感器溫度,則VTP>0

B如果物體溫度<傳感器溫度,則VTP<0

2.隨著環(huán)境溫度的升高,靈敏度降低。由于材料特性(熱電偶材料、薄膜材料)的靈敏度-Vo

 
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