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極化回路與高壓介質(zhì)擊穿
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一種低成本、用戶友好的測試系統(tǒng)，用于測量電介質(zhì)和鐵電材料的電荷密度隨電場和/或溫度的變化。
功能
該測試系統(tǒng)可以測量電介質(zhì)和鐵電材料的電荷密度隨電場和頻率的變化。該測試基于改進的有源索耶塔電路。
該系統(tǒng)具有集成保護電路，即使試樣在高壓下發(fā)生介質(zhì)擊穿，也能對系統(tǒng)進行保護。
使用TrekÒ高壓放大器，可在電壓>10 kV和頻率高達200 Hz的條件下進行測試。不需要高壓接口。
介質(zhì)擊穿測試也可以通過簡單地改變電氣和信號連接，在相同的測試系統(tǒng)中進行。
獨特設計的測試夾具不會損壞柔軟的聚合物電介質(zhì)材料。
能力
電壓：>10千伏
電荷：<1 nC至>1 mC（取決于放大器輸出）
測試頻率：0.01~200 Hz
該測試系統(tǒng)已被美國、泰國、澳大利亞和中國的十多所大學使用。
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