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寬帶交鑰匙介電譜
×錯(cuò)誤消息已棄用函數(shù)：each（）函數(shù)已棄用。在menu_set_active_trail（）（第2394行/home2/polyklab/public_html/includes/menu.inc）中的進(jìn)一步調(diào)用時(shí)，此消息將被抑制。
低成本交鑰匙介電測(cè)試系統(tǒng)，通過無縫集成，測(cè)量介電常數(shù)（電容）和損耗因數(shù)，作為溫度的函數(shù)：
高精度LCR計(jì)（阻抗分析儀），寬頻率范圍（20 Hz至1 MHz或110 MHz，或0.01 Hz至1 MHz，與使用的LCR計(jì)類型有關(guān)）
獨(dú)特的五通道測(cè)試夾具，可測(cè)量100 pF樣品的損耗系數(shù)低至0.05%。
帶液氮冷卻的溫度箱，-180℃至250℃，等溫試驗(yàn)或加熱/冷卻斜坡試驗(yàn)
執(zhí)行自動(dòng)測(cè)試和數(shù)據(jù)保存的計(jì)算機(jī)程序。
雖然一些商業(yè)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)年輕研究人員來說可能昂貴得令人望而卻步（10萬美元），但如果客戶愿意使用翻新的高質(zhì)量LCR儀表（如傳說中的HP/Agilent 4284A 20 Hz至1 MHz），我們的測(cè)試系統(tǒng)損耗很低，并且可以顯著降低。
五通道功能對(duì)于正在開發(fā)介電材料并希望快速測(cè)量介電常數(shù)和損耗因數(shù)（作為溫度和頻率的函數(shù)）以執(zhí)行成分優(yōu)化的客戶來說非常重要。
對(duì)于有興趣在寬頻率范圍內(nèi)研究介電弛豫過程的客戶，我們還提供了第二個(gè)測(cè)試系統(tǒng)，可以將頻率范圍擴(kuò)展到0.01（0.1）Hz至1 MHz，但價(jià)格仍然合理。 |
